在使用安規測試儀時(shí)的一些問(wèn)題解答

　　1、 何謂耐壓測試?

　　耐壓測試是常見(jiàn)的安規測試之一，常見(jiàn)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測試。耐壓測試的主要目的測試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當設備在運作時(shí)，對測試點(diǎn)施以一高壓，測試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò )(Flashover/ARC)發(fā)生。

　　2 、在安規中絕緣有幾種類(lèi)型?

　　絕緣類(lèi)型分為四種:基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內部可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因導致沿面放電，因此也須以耐壓測試判斷產(chǎn)品內部電路設計是否有沿面距離或絕緣不足等問(wèn)題。

　　3 、在A(yíng)C耐壓測試時(shí)，為何需要real current 的判斷?

　　AC輸出總電流(total current)可能因部份內部容抗而造成與真實(shí)測試電流(real current)之間的差異。電流在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應電流(reactive)會(huì )較大，而使得真實(shí)測試電流相對變小。若無(wú)法準確測量輸出電流與加以補償，會(huì )造成測試上的盲點(diǎn)。

　　4 、在DC耐壓測試時(shí)，為何需要緩升時(shí)間?

　　DC耐壓測試通常會(huì )需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間，因為大多的DUT具有電容性而會(huì )導致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩定，需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖，才不會(huì )因充電電流而導致漏電流過(guò)高，進(jìn)而判斷為不良品(FAIL)。

　　5 、在做耐壓測試時(shí)，為何需要緩降時(shí)間?

　　耐壓測試會(huì )使DUT充電，因此在耐壓測試結束時(shí)須一段時(shí)間來(lái)進(jìn)行放電，優(yōu)良的耐壓測試設備會(huì )將放電時(shí)間減至少，并且在未達放電標準前會(huì )明顯標示危險警告，以防止測試人員不當接觸而受到電氣傷害。

　　6 、何謂flashover 電氣閃絡(luò )(ARC)?

　　安規標準中明顯指出不得有絕緣破壞(Breakdown)發(fā)生，而部份安規標準更要求不得有電氣閃絡(luò )(Flashover/ARC發(fā)生，但并無(wú)測試標準。ARC是屬於電氣放電的一種，當ARC發(fā)生時(shí)已表示絕緣能力已不足，若多次的ARC發(fā)生，則會(huì )導致絕緣破壞。

　　7 、為何需要做電壓補償?

　　在耐壓測試中，測試電壓的標準是判斷良品的主要因素之一。許多耐壓測試設備以變壓器將低電壓轉換為高電壓后輸出，但儀器的內部阻抗會(huì )造成分壓，尤其在一些品質(zhì)不良的耐壓測試設備中，實(shí)際輸出電壓無(wú)法達到安規標準。為避免失誤判定為良品而造成不必要的困擾，優(yōu)良的耐壓測試設備會(huì )以自動(dòng)增益補償(Auto Gain Compensation)修正與補償電壓至所須電壓值，并將電壓表設計於輸出端，以便正確量測輸出電壓是否不足。